影響(xiang)K型熱電偶測(ce)溫的兩種因(yin)素

1、短(duǎn)程有序結構(gòu)變化(K狀态)的(de)影響K型熱電(diàn)偶在250℃—600℃溫度範(fàn)💃圍内使用時(shí)，由于其顯微(wēi)結構發生變(bian)化，形成短程(chéng)有序結構，因(yīn)此将影響🏃‍♀️熱(rè)電勢值而産(chǎn)生誤差，這就(jiù)是所謂的K狀(zhuàng)态。它是Ni—Cr合金(jīn)特有的晶格(gé)變化，當Cr含量(liàng)在5—30%範圍内存(cun)在着🈲原子晶(jing)格的有序無(wu)序轉變。由此(cǐ)而引起的誤(wu)差，因Cr含量🈲及(ji)溫度的不同(tóng)而變化。将K型(xing)熱電偶從🧑🏾‍🤝‍🧑🏼300℃加(jiā)熱至800℃，每50℃取一(yī)點，測量該點(dian)電勢。在450℃時偏(pian)差最大可達(dá)4℃，在350—600℃範圍内♍，均(jun1)爲正偏差。由(yóu)于K狀态的存(cún)在，使K型熱電(diàn)偶在👄升溫或(huo)降溫檢定結(jié)🤟果不一緻💃，故(gù)在廉金屬熱(re)電偶檢定規(guī)程❗中明文規(guī)定檢定順序(xu)：由低溫向高(gao)溫逐點升溫(wen)檢定。而且在(zai)400℃檢定點，不僅(jǐn)傳熱效果不(bú)佳，難以達到(dao)⭐熱平衡，而且(qie)，又恰好處🧑🏽‍🤝‍🧑🏻于(yu)K狀态誤差最(zui)大範圍。因此(ci)，對該點判定(ding)合格與否時(shi)應很慎💃重。Ni—Cr合(hé)金短程有序(xù)結構變化的(de)👣現象，不僅存(cun)在于K型，而且(qiě)，在E型🧑🏾‍🤝‍🧑🏼熱電偶(ou)正極中也有(you)此現象。但是(shi)，作爲變化量(liàng)E型熱🏒電偶僅(jin)爲K型的2/3。總🌈之(zhī)，K狀态與溫度(dù)、時♊間有關，當(dāng)溫度分布或(huò)熱電偶位置(zhi)變化時，其偏(pian)差也會發生(sheng)很大變化。故(gù)難以對偏差(chà)大小作出準(zhǔn)确評價。